Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

NěmčinaEbook
Baumann, Peter
Springer Fachmedien Wiesbaden
EAN: 9783834824950
Dostupné online
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Podrobné informace

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

EAN 9783834824950
ISBN 383482495X
Typ produktu Ebook
Vydavatel Springer Fachmedien Wiesbaden
Datum vydání 28. září 2012
Jazyk German
Země Germany
Autoři Baumann, Peter