Fatique Testing and Analysis

Fatique Testing and Analysis

AngličtinaPevná vazba
Lee Yung-Li
Elsevier Science & Technology
EAN: 9780750677196
Na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 10. ledna 2025
3 066 Kč
Běžná cena: 3 407 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

Fatigue Testing and Analysis: Theory and Practice presents the latest, proven techniques for fatigue data acquisition, data analysis, and test planning and practice. More specifically, it covers the most comprehensive methods to capture the component load, to characterize the scatter of product fatigue resistance and loading, to perform the fatigue damage assessment of a product, and to develop an accelerated life test plan for reliability target demonstration. This book is most useful for test and design engineers in the ground vehicle industry. Fatigue Testing and Analysis introduces the methods to account for variability of loads and statistical fatigue properties that are useful for further probabilistic fatigue analysis. The text incorporates and demonstrates approaches that account for randomness of loading and materials, and covers the applications and demonstrations of both linear and double-linear damage rules. The reader will benefit from summaries of load transducer designs and data acquisition techniques, applications of both linear and non-linear damage rules and methods, and techniques to determine the statistical fatigue properties for the nominal stress-life and the local strain-life methods.
EAN 9780750677196
ISBN 0750677198
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel Elsevier Science & Technology
Datum vydání 18. srpna 2004
Stránky 416
Jazyk English
Rozměry 229 x 152
Země United Kingdom
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Hathaway Richard; Lee Yung-Li; Pan Jwo