Digital Timing Measurements

Digital Timing Measurements

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Maichen Wolfgang
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781441940667
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 27. ledna 2025
3 949 Kč
Běžná cena: 4 388 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

As many circuits and applications now enter the Gigahertz frequency range, accurate digital timing measurements have become crucial in the design, verification, characterization, and application of electronic circuits. To be successful in this endeavour, an engineer needs a knowledge base covering instrumentation, measurement techniques, signal integrity, jitter and timing concepts, and statistics. Very often even the most experienced digital test engineers, while mastering some of those subjects, lack systematic knowledge or experience in the high speed signal area.

Digital Timing Measurements gives a compact, practice-oriented overview on all those subjects. The emphasis is on useable concepts and real-life guidelines that can be readily put into practice, with references to the underlying mathematical theory. It unites in one place a variety of information relevant to high speed testing, measurement, signal fidelity, and instrumentation.

EAN 9781441940667
ISBN 1441940669
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 25. listopadu 2010
Stránky 240
Jazyk English
Rozměry 240 x 160
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Maichen Wolfgang
Ilustrace XIV, 240 p.
Edice Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006
Série Frontiers in Electronic Testing