Výsledky vyhledávání

Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms

Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms

Chen Yen-Wei
AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Springer, Berlin
ISBN: 9783031598104
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 10. února 2025
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 10. února 2025
4 388 Kč -10 %