Výsledky vyhledávání

Autor: Rahman, M. Shahinur
Reliability Characteristics of Rare-earth oxides and Gate Stacks on Ge

Reliability Characteristics of Rare-earth oxides and Gate Stacks on Ge

Rahman, M. Shahinur
AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
LAP Lambert Academic Publishing
ISBN: 9783659451836
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 28. února 2025
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 28. února 2025
1 643 Kč -10 %