Výsledky vyhledávání

Electromigration In Ulsi Interconnections

Electromigration In Ulsi Interconnections

Cher Ming Tan, Tan
AngličtinaEbook
World Scientific Publishing Company
ISBN: 9789814467933
Dostupné online
Dostupné online
1 122 Kč -10 %
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Tan, Cher Ming
AngličtinaEbook
Springer Nature Singapore
ISBN: 9789814451215
Dostupné online
Dostupné online
1 539 Kč -10 %
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Tan, Cher Ming
AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Springer Verlag, Singapore
ISBN: 9789814451208
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 3. ledna 2025
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 3. ledna 2025
1 463 Kč -10 %
Electromigration In Ulsi Interconnections

Electromigration In Ulsi Interconnections

Tan, Cher Ming (Ntu, S'pore)
AngličtinaPevná vazba
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
ISBN: 9789814273329
Na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 16. prosince 2024
Na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 16. prosince 2024
3 245 Kč -10 %
Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging

Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging

Tan, Cher Ming
AngličtinaEbook
Elsevier Science
ISBN: 9780128224076
Dostupné online
Dostupné online
5 964 Kč -10 %
Graphene and VLSI Interconnects

Graphene and VLSI Interconnects

Tan, Cher-Ming
AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Jenny Stanford Publishing
ISBN: 9789814877824
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 30. prosince 2024
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 30. prosince 2024
3 981 Kč -10 %
Graphene and VLSI Interconnects

Graphene and VLSI Interconnects

Tan, Cher-Ming
AngličtinaEbook
Jenny Stanford Publishing
ISBN: 9781000470680
Dostupné online
Dostupné online
3 794 Kč -10 %
Graphene and VLSI Interconnects

Graphene and VLSI Interconnects

Tan, Cher-Ming
AngličtinaEbook
Jenny Stanford Publishing
ISBN: 9781000470673
Dostupné online
Dostupné online
3 794 Kč -10 %
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Tan, Cher Ming
AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Springer London Ltd
ISBN: 9780857293091
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 3. ledna 2025
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 3. ledna 2025
2 925 Kč -10 %
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Tan, Cher Ming
AngličtinaEbook
Springer London
ISBN: 9780857293107
Dostupné online
Dostupné online
3 061 Kč -10 %
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Tan, Cher Ming
AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Springer London Ltd
ISBN: 9781447126416
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 3. ledna 2025
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 3. ledna 2025
2 925 Kč -10 %
Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging

Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging

Tan, Cher Ming (Center for Reliability Sciences and Technologies, Chang Gung University, Taiwan; Center for Reliability Engineering, Ming Chi University of Technology, Taiwan)
AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Elsevier Science Publishing Co Inc
ISBN: 9780128224083
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 12. prosince 2024
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 12. prosince 2024
5 030 Kč -10 %