Fault Diagnosis Inverse Problems: Solution with Metaheuristics

Fault Diagnosis Inverse Problems: Solution with Metaheuristics

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Camps Echevarría, Lídice
Springer, Berlin
EAN: 9783030079086
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 27. ledna 2025
2 370 Kč
Běžná cena: 2 633 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

This book presents a methodology based on inverse problems for use in solutions for fault diagnosis in control systems, combining tools from mathematics, physics, computational and mathematical modeling, optimization and computational intelligence. This methodology, known as fault diagnosis – inverse problem methodology or FD-IPM, unifies the results of several years of work of the authors in the fields of fault detection and isolation (FDI), inverse problems and optimization. The book clearly and systematically presents the main ideas, concepts and results obtained in recent years. By formulating fault diagnosis as an inverse problem, and by solving it using metaheuristics, the authors offer researchers and students a fresh, interdisciplinary perspective for problem solving in these fields. Graduate courses in engineering, applied mathematics and computing also benefit from this work.

EAN 9783030079086
ISBN 3030079082
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer, Berlin
Datum vydání 11. února 2019
Stránky 167
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země Switzerland
Sekce General
Autoři Campos Velho, Haroldo Fraga de; Camps Echevarria, Lidice; Llanes Santiago Orestes; Silva Neto, Antonio Jose da
Ilustrace XVIII, 167 p. 68 illus., 52 illus. in color.
Edice Softcover reprint of the original 1st ed. 2019
Série Studies in Computational Intelligence