évaluation des caractéristiques des films minces de ZnO par la méthode mSILAR

évaluation des caractéristiques des films minces de ZnO par la méthode mSILAR

FrancouzštinaMěkká vazba
Thomas, Deepu
Editions Notre Savoir
EAN: 9786204031644
Na objednávku
Předpokládané dodání v úterý, 7. ledna 2025
1 035 Kč
Běžná cena: 1 150 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

Les matériaux semi-conducteurs nanométriques de troisième génération présentent un intérêt primordial en raison de leurs propriétés multifonctionnelles et de leurs applications. Les nanostructures de ZnO ont été utilisées pour diverses applications allant de l'électronique à l'optoélectronique, de la détection aux applications biomédicales et environnementales, en raison de leurs propriétés. Le présent ouvrage se concentre sur la synthèse, la caractérisation, les applications des films minces de ZnO par la méthode mSILAR.
EAN 9786204031644
ISBN 6204031643
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Editions Notre Savoir
Datum vydání 24. srpna 2021
Stránky 88
Jazyk French
Rozměry 229 x 152 x 5
Sekce General
Autoři Thomas, Deepu