Software-Qualitätssicherung

Software-Qualitätssicherung

NěmčinaMěkká vazba
Schmitz Paul
Vieweg+Teubner
EAN: 9783528035921
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Podrobné informace

Wenn Fehler in Software-Produkten während des Betriebs auftreten, ist dies nicht aus­ schließlich darauf zurückzuführen, daß in der Entwicklung zu wenig getestet worden ist. Durch verschiedene Umfragen konnten Anteile des Testaufwands (einschlißlich Pilottest) am Gesamtaufwand der Software-Entwicklung von bis zu 70 % ermittelt werden (siehe Abb. 0-1). Durchschnittlich kann man davon ausgehen daß zwischen 30 % und 50 % des Gesamtaufwands der Software-Entwicklung für Testen aufgewendet werden. Umfrage Testaufwand (U1) 20-30 % bzw. 20-40 % (U2) 60-70% inklusive Pilottest (U3) o 30-50 % für Anwendungssoftware o 30-40 % für Systemsoftware Abb. 0-1: Aufwand des Testens als Anteil des gesamten Entwicklungsaufwands /BONS82c/ Ul: /SCHM78/; U2: /SCHM80a/; U3: /SCHM8l/ Sofern der Aufwand für Testen nicht zu gering ist, sondern vielfach als zu hoch bezeichnet wird, ergibt sich zwangsläufig die Frage nach den Ursachen für die dennoch häufig be­ mängelte Qualität von Software-Produkten. Ursachen sind vielfach, daß zwar eine Viel­ zahl von Tests durchgeführt werden, jedoch überwiegend zum falschen Zeitpunkt und mit der falschen Vorgehensweise. Vorhandene Fehler werden zu spät gefunden, d. h. später als eigentlich möglich, wodurch zwangsläufig Folgefehler in den Entwicklungsschritten entstehen. Darüber hinaus werden teilweise Methoden verwendet, die nicht effizient sind. So werden z. B. für den Abnahmetest über einen bestimmten Zeitraum ausschließlich Parallelläufe durchgeführt, wobei von vornherein sicher ist, daß eine Vielzahl von Normal­ fällen verarbeitet werden, aber die - immer wieder zu Fehlverhalten führenden - Grenz­ werte oder Falschwerte nicht systematisch einbezogen werden.
EAN 9783528035921
ISBN 3528035927
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Vieweg+Teubner
Datum vydání 1. ledna 1982
Stránky 206
Jazyk German
Rozměry 235 x 155
Země Germany
Sekce General
Autoři Schmitz Paul
Ilustrace X, 206 S. 27 Abb.
Série Programm Angewandte Informatik