Parasitic-Aware Optimization of CMOS RF Circuits

Parasitic-Aware Optimization of CMOS RF Circuits

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Allstot David J.
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781475777543
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání ve středu, 7. května 2025
2 633 Kč
Běžná cena: 2 925 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

In the arena of Parasitic-Aware Design of CMOS RF Circuits, efforts are aimed at the realization of true single-chip radios with few, if any, off-chip components. Ironically, the on-chip passive components required for RF integration pose miore serious challenges to SOC integration than the active CMOS and BJT devices. This is not surprising since modern digital IC designs are dominated as much, or more, by interconnectg characteristics than by active device properties. In any event, the co-integration of active and passive devices in RFIC design represents a serious design problem and an even more daunting manufacturing challenge. If conventional mixed-signal design techniques are employed, parasitics associated with passive elements (resistors, capacitors, inductors, transformers, pads, etc.) and the package effectively de-tune RF circuits rendering them sub-optimal or virtually useless. Hence, dealing with parasitics in an effective way as part of the design process is an essential emerging methodology in modern SOC design. The parasitic-aware RF circuit synthesis techinques described in this book effectively address this critical problem.
EAN 9781475777543
ISBN 147577754X
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer-Verlag New York Inc.
Datum vydání 31. května 2013
Stránky 162
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Allstot David J.; Kiyong Choi; Park Jinho
Ilustrace XVII, 162 p. 28 illus.
Edice Softcover reprint of the original 1st ed. 2003
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na info@megabooks.cz, rádi Vám ji poskytneme.