Current Trends in Bayesian Methodology with Applications

Current Trends in Bayesian Methodology with Applications

AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Taylor & Francis Inc
EAN: 9781482235111
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 31. ledna 2025
4 381 Kč
Běžná cena: 4 868 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

Collecting Bayesian material scattered throughout the literature, Current Trends in Bayesian Methodology with Applications examines the latest methodological and applied aspects of Bayesian statistics. The book covers biostatistics, econometrics, reliability and risk analysis, spatial statistics, image analysis, shape analysis, Bayesian computation, clustering, uncertainty assessment, high-energy astrophysics, neural networking, fuzzy information, objective Bayesian methodologies, empirical Bayes methods, small area estimation, and many more topics.

Each chapter is self-contained and focuses on a Bayesian methodology. It gives an overview of the area, presents theoretical insights, and emphasizes applications through motivating examples.

This book reflects the diversity of Bayesian analysis, from novel Bayesian methodology, such as nonignorable response and factor analysis, to state-of-the-art applications in economics, astrophysics, biomedicine, oceanography, and other areas. It guides readers in using Bayesian techniques for a range of statistical analyses.

EAN 9781482235111
ISBN 1482235110
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel Taylor & Francis Inc
Datum vydání 21. května 2015
Stránky 680
Jazyk English
Rozměry 234 x 156
Země United States
Editoři Dey Dipak K.; Loganathan Appaia; Singh, Umesh; Upadhyay Satyanshu K.