Data Mining: Know It All

Data Mining: Know It All

AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Chakrabarti Soumen
Elsevier Science & Technology
EAN: 9780123746290
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 10. ledna 2025
1 518 Kč
Běžná cena: 1 687 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

This book brings all of the elements of data mining together in a single volume, saving the reader the time and expense of making multiple purchases. It consolidates both introductory and advanced topics, thereby covering the gamut of data mining and machine learning tactics ? from data integration and pre-processing, to fundamental algorithms, to optimization techniques and web mining methodology. The proposed book expertly combines the finest data mining material from the Morgan Kaufmann portfolio. Individual chapters are derived from a select group of MK books authored by the best and brightest in the field. These chapters are combined into one comprehensive volume in a way that allows it to be used as a reference work for those interested in new and developing aspects of data mining. This book represents a quick and efficient way to unite valuable content from leading data mining experts, thereby creating a definitive, one-stop-shopping opportunity for customers to receive the information they would otherwise need to round up from separate sources.
EAN 9780123746290
ISBN 0123746299
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel Elsevier Science & Technology
Datum vydání 27. listopadu 2008
Stránky 480
Jazyk English
Rozměry 235 x 191
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Chakrabarti Soumen; Cox Earl; Frank Eibe; Han Jiawei; Jiang Xia; Kamber Micheline; Lightstone Sam S.; Nadeau Thomas P.; Neapolitan Richard E.; Pyle Dorian; Refaat Mamdouh; Schneider Markus; Teorey Toby J.; Witten Ian H.