Atom Probe Field Ion Microscopy

Atom Probe Field Ion Microscopy

AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Miller M. K.
Oxford University Press
EAN: 9780198513872
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání ve středu, 22. ledna 2025
5 622 Kč
Běžná cena: 6 247 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

This book provides a definitive account of the theory, practice and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. Recent advances in the method,which are largely due to the present authors, now permit the atomic-scale chemistry of a solid specimen to be recognised in three dimensions. As a result of these developments, new and exciting applications are rapidly emerging in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership.
EAN 9780198513872
ISBN 0198513879
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel Oxford University Press
Datum vydání 19. září 1996
Stránky 520
Jazyk English
Rozměry 242 x 164 x 33
Země United Kingdom
Autoři Cerezo A.; Hetherington M. G.; Miller M. K.; Smith FRS, G. D. W.
Ilustrace 4 colour plates, numerous halftones, line figures and maps
Série Monographs on the Physics and Chemistry of Materials