Single-Photon Imaging

Single-Photon Imaging

AngličtinaPevná vazbaTisk na objednávku
Springer, Berlin
EAN: 9783642184420
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 27. ledna 2025
4 739 Kč
Běžná cena: 5 266 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

The acquisition and interpretation of images is a central capability in almost all scientific and technological domains. In particular, the acquisition of electromagnetic radiation, in the form of visible light, UV, infrared, X-ray, etc. is of enormous practical importance. The ultimate sensitivity in electronic imaging is the detection of individual photons. With this book, the first comprehensive review of all aspects of single-photon electronic imaging has been created. Topics include theoretical basics, semiconductor fabrication, single-photon detection principles, imager design and applications of different spectral domains. Today, the solid-state fabrication capabilities for several types of image sensors has advanced to a point, where uncoooled single-photon electronic imaging will soon become a consumer product. This book is giving a specialist´s view from different domains to the forthcoming “single-photon imaging” revolution. The various aspects of single-photon imaging are treated by internationally renowned, leading scientists and technologists who have all pioneered their respective fields.
EAN 9783642184420
ISBN 3642184421
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel Springer, Berlin
Datum vydání 3. srpna 2011
Stránky 354
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země Germany
Sekce Professional & Scholarly
Ilustrace XVIII, 354 p.
Editoři Seitz Peter; Theuwissen Albert J. P.
Série Springer Series in Optical Sciences