Fault Detection and Flight Data Measurement

Fault Detection and Flight Data Measurement

AngličtinaMěkká vazba
Samy Ihab
Springer, Berlin
EAN: 9783642240515
Na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 14. února 2025
2 633 Kč
Běžná cena: 2 925 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

This book considers two popular topics: fault detection and isolation (FDI) and flight data estimation using flush air data sensing (FADS) systems. Literature surveys, comparison tests, simulations and wind tunnel tests are performed. In both cases, a UAV platform is considered for demonstration purposes. In the first part of the book, FDI is considered for sensor faults where a neural network approach is implemented. FDI is applied both in academia and industry resulting in many publications over the past 50 years or so. However few publications consider neural networks in comparison to traditional techniques such as observer based, parameter estimations and parity space approaches. The second part of this book focuses on how to estimate flight data (angle of attack, airspeed) using a matrix of pressure sensors and a neural network model. In conclusion this book can serve as an introduction to FDI and FADS systems, a literature survey, and a case study for UAV applications.

EAN 9783642240515
ISBN 3642240518
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel Springer, Berlin
Datum vydání 15. října 2011
Stránky 176
Jazyk English
Rozměry 235 x 155
Země Germany
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Gu, Da-Wei; Samy Ihab
Ilustrace XX, 176 p. 82 illus., 23 illus. in color.
Edice 2011
Série Lecture Notes in Control and Information Sciences