Crystallography and Crystal Defects

Crystallography and Crystal Defects

AngličtinaPevná vazba
Kelly, Anthony
John Wiley and Sons Ltd
EAN: 9780470750155
Na objednávku
Předpokládané dodání ve čtvrtek, 20. února 2025
3 556 Kč
Běžná cena: 3 951 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

Extensively revised and updated, this new edition of a classic text presents a unified approach to crystallography and to the defects found within crystals. The book combines the classical and exact description of symmetry of a perfect crystal with the possible geometries of the major defects-dislocations, stacking faults, point defects, twins, interfaces and the effects of martensitic transformations. A number of important concepts and exciting new topics have been introduced in this second edition, including piezoelectricity, liquid crystals, nanocrystalline concepts, incommensurate materials and the structure of foamed and amorphous solids. The coverage of quasicrystalline materials has been extended, and the data tables, appendices and references have been fully updated. Reinforcing its unrivalled position as the core text for teaching crystallography and crystal defects, each chapter includes problem sets with brief numerical solutions at the end of the book. Detailed worked solutions, supplementary lecture material and computer programs for crystallographic calculations are provided online (http://booksupport.wiley.com).
EAN 9780470750155
ISBN 0470750154
Typ produktu Pevná vazba
Vydavatel John Wiley and Sons Ltd
Datum vydání 13. února 2012
Stránky 536
Jazyk English
Rozměry 250 x 181 x 35
Země United States
Sekce Professional & Scholarly
Autoři Kelly, Anthony; Knowles Kevin M.
Edice 2nd Edition