ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis

ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis

AngličtinaMěkká vazba
ASM International
A S M International
EAN: 9781627081504
Na objednávku
Předpokládané dodání v pondělí, 3. února 2025
4 417 Kč
Běžná cena: 4 908 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.
EAN 9781627081504
ISBN 162708150X
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel A S M International
Datum vydání 30. ledna 2018
Stránky 660
Jazyk English
Rozměry 229 x 152
Země United States
Autoři ASM International