Space Radiation Monitoring Instrumentation

Space Radiation Monitoring Instrumentation

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Mahant, Keyur
LAP Lambert Academic Publishing
EAN: 9786136718255
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 28. března 2025
950 Kč
Běžná cena: 1 055 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

The charged particles can cause adverse effects on spacecraft and electronics components. Radiation effects from high energy particles cause spacecraft surface charging, degradation or permanent failure of the electronic components and sub systems by single event effects, displacement damages and ionizing dose effects in the spacecraft. The effects of ion-induced charge transients can be divided in the basic three categories: Total ionizing dose (TID), linear energy transfer (LET) and Single event upset (SEU).TID effect is accumulation of ionizing energy deposited over a long period on semiconductor materials. TID occurs mostly due to the electrons and protons, which can cause failure of device. The total energy loss or transfer to the material per unit distance of travel trough the material is called LET Electronic devices can be disturbed by the passage of energetic electrons, protons or heavier ions that may alter the state of a circuit, producing "single event effects". SEU and multiple-bit upset (MBU) which change the logic state of internal nodes of the circuit. It can be reset by different electrical operations. These errors are called soft errors which are recoverable.
EAN 9786136718255
ISBN 6136718251
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel LAP Lambert Academic Publishing
Stránky 56
Jazyk English
Rozměry 220 x 150
Autoři Mahant, Keyur; Mewada, Hiren; Patel, Amit
Informace o výrobci
Kontaktní informace výrobce nejsou momentálně dostupné online, na nápravě intenzivně pracujeme. Pokud informaci potřebujete, napište nám na info@megabooks.cz, rádi Vám ji poskytneme.