Decision Patterns on Software Metrices for Single& Multiple Projects

Decision Patterns on Software Metrices for Single& Multiple Projects

AngličtinaMěkká vazbaTisk na objednávku
Moparthi, Nageswara Rao
LAP Lambert Academic Publishing
EAN: 9783330049550
Tisk na objednávku
Předpokládané dodání v pátek, 28. února 2025
1 717 Kč
Běžná cena: 1 908 Kč
Sleva 10 %
ks
Chcete tento titul ještě dnes?
knihkupectví Megabooks Praha Korunní
není dostupné
Librairie Francophone Praha Štěpánská
není dostupné
knihkupectví Megabooks Ostrava
není dostupné
knihkupectví Megabooks Olomouc
není dostupné
knihkupectví Megabooks Plzeň
není dostupné
knihkupectví Megabooks Brno
není dostupné
knihkupectví Megabooks Hradec Králové
není dostupné
knihkupectví Megabooks České Budějovice
není dostupné
knihkupectví Megabooks Liberec
není dostupné

Podrobné informace

In this research book found the Methods for detecting decision patterns on software metrics for single and associated multiple projects while implantation of SDLC Phases for reinforced taking optimal way for decision making which helps a lot for client in terms of business process improvement.In our first model, a preprocessed based hybrid Bayesian network was implemented to handle large number of metrics for multi-defect decision patterns and other a new ensemble defect prediction classification model was implemented on multiple associated products to predict metric relationship, along with defects patterns and also establishing a new privacy preserving based defect prediction classification model was implemented on multiple associated products to predict metric relationship, along with defects patterns.
EAN 9783330049550
ISBN 3330049553
Typ produktu Měkká vazba
Vydavatel LAP Lambert Academic Publishing
Stránky 200
Jazyk English
Rozměry 220 x 150
Autoři Moparthi, Nageswara Rao; Sagar, P. Vidhya; Satyanarayana, S.